本文標(biāo)題："全息照像測量技術(shù)-光切顯微鏡制造設(shè)計定制廠商"
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全息照像測量技術(shù)-光切顯微鏡制造設(shè)計定制廠商
因為由一點(diǎn)到另一點(diǎn)的光程變得雜亂無章了，所以相應(yīng)的干涉圖
象的組織也是不規(guī)則的，它的空間頻率很高。由于這個原因，以
及物體在兩個比較狀態(tài)中，其表面形狀發(fā)生明顯的變化時，例如
，表面上涂了漆或經(jīng)過化學(xué)腐蝕時，全息照像干涉測量技術(shù)就不
能比較各種發(fā)散的透明物體和反射物體了。但是， 當(dāng)物體表面
形狀發(fā)生變化時，可利用減少條紋的對比度，來觀察這種變化的
特性，例如，用于觀察腐蝕過程。全息照像干涉測量和普通干涉
測量是有區(qū)別的。它能利用同一個光路記錄不同時刻的波前，這
就能用由真實物體所得到的干涉圖與標(biāo)準(zhǔn)物體干涉圖進(jìn)行比較。
此時，一般說來，對光學(xué)器件的質(zhì)量要求并不十分重要。因為即
使光學(xué)零件不完善，兩個干涉波的變化程度仍是一樣的。較粗糙
的表面，用全息照像干涉測量技術(shù)比較方便，只是在全息圖方向
上要散射足夠的光雖。它不需要比較標(biāo)準(zhǔn)樣件，就可以進(jìn)行任意
的相對測量。例如，可以測量當(dāng)表面變形或受壓縮時，表面移動
的情況。這時，原始的表面狀況，可以用作最終表面狀況的標(biāo)準(zhǔn)
樣件。最深的概念在全息照像中已失去了意義，因再現(xiàn)物體的厚
度只與所用激光的相干長度有關(guān)。
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