本文標(biāo)題："鍍層金相結(jié)構(gòu)分析顯微結(jié)構(gòu)分析金相顯微鏡"
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鍍層金相結(jié)構(gòu)分析顯微結(jié)構(gòu)分析金相顯微鏡
共同缺點(diǎn)是結(jié)構(gòu)分析信息和形貌觀察結(jié)合不夠好，而
這正是透射電鏡的突出優(yōu)點(diǎn)。
鍍層的電子結(jié)構(gòu)分析
材料的顯微結(jié)構(gòu)決定于其同種和異種原子核及其電子
云之間的相互作用。這種作用體現(xiàn)在材料的電子結(jié)構(gòu)上
，正是電子結(jié)構(gòu)，尤其是其電子狀態(tài)決定了材料的主要
物理化學(xué)特征，因此，電子結(jié)構(gòu)一直是作為固體材料研
究的基本問題而受到人們重視。這一基本原則對于鍍層
無疑也是適用的。
光電子能譜是研究表面電子結(jié)構(gòu)的基本實(shí)驗(yàn)方法，用
它可以探測材料表面層電子的各種能級，獲得關(guān)于電子
束縛能、原子間結(jié)合狀態(tài)和電荷分布的信息。在光電子
能譜中，除了由各能級發(fā)射的電子所產(chǎn)生的峰外，還有
由各種原因形成的副峰。例如，由于價(jià)電子狀態(tài)的不同
，使內(nèi)殼軌道發(fā)射的電子能譜峰發(fā)生化學(xué)位移，利用化
學(xué)位移可以推斷原子及整個材料內(nèi)部的電子結(jié)構(gòu)。
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