本文標(biāo)題："晶粒構(gòu)成的多晶體試樣檢測(cè)用電子顯微鏡的常識(shí)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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晶粒構(gòu)成的多晶體試樣檢測(cè)用電子顯微鏡的常識(shí)
當(dāng)一電子束穿過(guò)任一晶體的周期性晶格時(shí)，將會(huì)被衍射.如
果將透射電子顯微鏡的光學(xué)布置稍作改變，就能把試樣的衍射花
樣(而不是表面形貌圖象)投影在熒光屏上.如相對(duì)于光束的截面
積而言，晶體的尺寸足夠大，
則將產(chǎn)生衍射斑點(diǎn)并可用晶體結(jié)構(gòu)來(lái)
診釋.對(duì)于近似完整的晶體，還能看到菊池線(Kikuohi lines);
有時(shí)可用它們來(lái)測(cè)定晶體取向.由很多尺寸比光束面積小得多
的，并且無(wú)規(guī)則取向的小晶粒構(gòu)成的多晶體試樣，將產(chǎn)生圓環(huán)狀
的衍射花樣。取一級(jí)近似，環(huán)的直徑D可由下式給出(除非在試樣
與熒光屏之間還有放大級(jí)存在)，
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