本文標(biāo)題："礦物的折射率可用顯微鏡測量-顆粒直徑測量"

礦物的折射率可用顯微鏡測量-顆粒直徑測量
礦物研究

    在兩面拋光薄片或超微薄片對礦物作下述光學(xué)測定的范圍并不是作為一
種建議而提出來的。我們采用其它補充技術(shù)的經(jīng)驗表明，這只是一種較快速
和可靠的方法。
    在作兩面拋光薄片觀察時，我們根據(jù)下列光學(xué)性質(zhì)對礦物作初步鑒定:

①外貌，包括顏色、習(xí)性、多色性、解理、雙晶，以及其它形貌方面的參數(shù)

②與石英、長石或其易鑒別的黑色礦物，如云母、角閃石、輝石和其它副礦
物進行比較而估定的折射率和重折射率;

③我們偶爾也在錐步下對礦物的延性符號和光性符號作檢查。因我們實驗室
還備有一臺干涉顯微鏡，可在該鏡上通過與石英的N。或粘結(jié)樹膠折射率的
比較來推定礦物的折射率，進而對礦物作初步鑒定。如果經(jīng)過上述的快速研
究還不能對礦物作出鑒定，那就要在薄片上把這個礦物的位置用色筆作出標(biāo)
記，并進行顯微照相，以便作下一步的電子探針分析。目前我們還不能對薄
片中的礦物作就地X射線衍射分析，只好轉(zhuǎn)向?qū)?jīng)過顯微鏡檢測的該礦物壓
碎顆粒進行研究，從而可以避免從薄片中揭取細(xì)小礦物的困難。

    我們認(rèn)為，最好同時對兩面拋光薄片和礦物的松散自由顆粒進行研究，
這樣可以相互取長補短，以便從很小一點巖石樣品上獲得盡可能多的和準(zhǔn)確
可靠的科學(xué)數(shù)據(jù)。
 

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礦物的折射率可用顯微鏡測量-顆粒直徑測量,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)

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